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中芯国际的专利技术保护趋势

浏览: 发表时间:2022-11-04 10:26:49

2020年7月16日上市688981   中芯国际中芯国际集成电路制造有限公司目前市值3344亿元2022年中报营业收入245.92亿元净利润77.87亿元研究经费22.94亿元

1发明名称半导体结构及其形成方法   申请号2021104764885   申请日2021年4月29日    技术效果半导体器件降低闪烁噪声的同时性能也较好

2发明名称电路检测方法    申请号2021104746675申请日2021年4月29日

技术效果提高了待测存储电路的最小工作电压的检测效率

3发明名称半导体结构及其形成方法   申请号2019103028726申请日2019年4月16日技术效果单位面积的基底上MIM电容的电容值更大

4发明名称闪存器件及其制作方法    申请号201910891254X申请日2019年9月19日   技术效果提高了浮置栅极和控制栅极之间的接触面积有效提高了器件的耦合比进而改善了器件的性能

5发明名称半导体结构及其形成方法    申请号2021104650761申请日2021年4月28日    技术效果栅极结构环绕覆盖沟道层增大了沟道层中用于作为沟道的面积

6发明名称半导体结构及其形成方法    申请号2021104535797申请日2021年4月26日 技术效果第一栅电极层和第一源漏掺杂层被第二晶体管结构完全遮挡的概率较低从而易于通过插塞将第一晶体管结构中第一栅电极层和第一源漏掺杂层的电性引出

7发明名称半导体结构及其形成方法    申请号2021104653168申请日2021年4月28日   技术效果栅极结构环绕覆盖沟道层的各个表面增大了沟道层中用于作为沟道的面积

8发明名称半导体结构及其形成方法    申请号2021104620785申请日2021年4月27日   技术效果每层金属层的电极端不需要通过较粗的极板连接可以减少每层金属层的电极端面积从而可以增加极板的数量进而提高MOM电容的密度

9发明名称半导体结构及其形成方法    申请号2021104664961申请日2021年4月28日   技术效果使用隔离层来隔离鳍片和衬底可以避免鳍片的根部栅极无法控制的位置形成并联的寄生晶体管从而避免器件开启电压波动或漏电流增加进而提高器件性能

10)发明名称半导体结构及其形成方法 ,申请号2021104606754申请日2021年4月27日   技术效果第一鳍部和第二鳍部内的掺杂离子浓度稳定提高了形成的器件的沟道区内掺杂离子浓度的稳定性从而提高器件的性能

有没有发现每个发明采用半导体结构及其形成方法可以让对手必须把每个文章看完了才知道干什么技术内容半导体行业的工艺改进潜力巨大以上专利可以进一步转化为标准必要专利


中芯国际的专利技术保护趋势
2020年7月16日上市,688981   中芯国际,中芯国际集成电路制造有限公司目前市值3344亿元,2022年中报营业收入245.92亿元,净利润77.87
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